Máy đo kích thước hạt NANOPHOX từ 0.5 nm đến 10,000 nm

Article by Nguyễn Vũ Hoàng Duy at 22.02.2024
Máy đo kích thước hạt NANOPHOX từ 0.5 nm đến 10,000 nm

Máy đo kích thước hạt NANOPHOX từ 0.5 nm đến 10,000 nm

Dòng máy phân tích kích thước hạt nano của Sympatec Đức trong môi trường phân tán có độ đục cao từ 0,5 nm đến 10.000 nm dựa trên tán xạ ánh sáng động

Nói chung, việc thu thập cường độ ánh sáng tán xạ của các hạt dưới chuyển động nhiệt được sử dụng để mô tả đặc tính của hạt nano (nguyên lý tán xạ ánh sáng động (DLS)). NANOPHOX CS kết hợp quang phổ tương quan chéo photon (PCCS) với công nghệ tán xạ ngược phân cực cải tiến đang chờ cấp bằng sáng chế, cho phép phân tích kích thước hạt nano có độ phân giải cao trong huyền phù và nhũ tương đậm đặc cao từ 0,5 nm đến 10.000 nm. Chỉ với lượng mẫu nhỏ, các phép đo có ý nghĩa và có tính lặp lại tốt dưới một phút của vật liệu mẫu ở nồng độ ban đầu sẽ được thực hiện. Kích thước hạt, độ rộng phân bố và độ đa phân tán được xác định đáng tin cậy như độ ổn định của độ phân tán với biến thể tán xạ ánh sáng động này.

Mục tiêu của mọi phân tích hạt là thu được kết quả đo khách quan. Nền tảng cho kết quả đáng tin cậy nằm ở việc phân tích mẫu cụ thể theo sản phẩm ở trạng thái ban đầu. PCCS tán xạ ngược phân tách bằng phân cực (PsB PCCS) được triển khai trong NANOPHOX CS cung cấp đặc tính hạt không phụ thuộc vào nồng độ của các hạt nano ở dạng huyền phù và nhũ tương mờ đục. Phương pháp đo này giúp loại bỏ nhiều ánh sáng tán xạ, nâng tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu lên một tầm cao mới, cho phép nồng độ mẫu cao hơn với thời gian đo ngắn hơn đồng thời cải thiện độ lặp lại và độ chính xác.

Không thể đạt được kết quả tương tự bằng phương pháp quang phổ tương quan photon (PCS), phương pháp thường được sử dụng trong tán xạ ánh sáng động. PCS sử dụng khả năng tự tương quan của cường độ ánh sáng tán xạ để xác định sự phân bố kích thước hạt. Tuy nhiên, kỹ thuật truyền thống yêu cầu các mẫu cực kỳ loãng, vì không thể đo chính xác kích thước hạt do xảy ra hiện tượng tán xạ nhiều lần. Quá trình chuẩn bị mẫu sẽ tốn thời gian và dễ xảy ra lỗi vì điều này dẫn đến những thay đổi trong phân bố kích thước hạt và độ ổn định của mẫu.

Việc áp dụng kỹ thuật tương quan chéo cho phép tính toán phân bố kích thước hạt mà không chịu ảnh hưởng của tán xạ bội. Khả năng so sánh giữa PCS thông thường và PCCS có thể được thiết lập bằng cách đo chuỗi nồng độ với huyền phù đơn thức của tiêu chuẩn polystyrene 100 nm.

Kết quả đơn giản, nhanh chóng và đáng tin cậy

Với thời gian đo chưa đến một phút, người dùng có thể nhanh chóng đạt được kết quả đo đáng tin cậy với NANOPHOX CS. Có thể loại bỏ loạt pha loãng mẫu tốn thời gian vì các phép đo có thể được thực hiện ngay cả trong các mẫu có nồng độ cao. Thời gian và lỗi chuẩn bị mẫu được giảm thiểu và tạp chất có thể có trong mẫu được giảm thiểu, điều này có thể ảnh hưởng đáng kể đến sự phân bố hạt trong các mẫu có độ pha loãng cao.

Tính năng tự động định vị cuvet và điều chỉnh chính xác cường độ laser để tối ưu hóa tín hiệu đo đặc biệt thân thiện với người dùng. Điều này hỗ trợ đo lường nhanh chóng và dễ dàng. NANOPHOX CS có thể hoạt động với cuvet dùng một lần làm bằng thủy tinh acrylic. Đối với các chất lỏng hoặc ứng dụng đặc biệt, có sẵn cuvet thủy tinh hoặc cuvet chịu dung môi (lên đến 4 ml). Đối với thể tích mẫu nhỏ, sử dụng cuvet siêu nhỏ để có thể phân tích từ 50 µl đến 2,7 ml vật liệu mẫu.

Phạm vi ứng dụng mở rộng

NANOPHOX CS bao phủ phạm vi kích thước hạt rộng lớn từ 0,5 nm đến 10.000 nm. Việc phân tích kích thước không phụ thuộc vào nồng độ và có nồng độ cao lên tới khoảng 40% theo thể tích.

Với phạm vi nhiệt độ được kiểm soát chính xác từ 0°C đến 90°C, hành vi phân tán nano có thể được quan sát hoặc ảnh hưởng tương ứng. NANOPHOX CS chứng minh hiệu quả cụ thể của nó trong phân tích độ ổn định của quá trình ổn định không gian hoặc tĩnh điện trong các hệ phân tán nano nồng độ cao. Bất kể các hạt đã được ổn định bằng điện tích, polyme hay chất hoạt động bề mặt, NANOPHOX CS đều cung cấp thông tin một cách đáng tin cậy về sự kết tụ hoặc hành vi kết tụ. Do đó, có thể dễ dàng tiếp cận các cơ hội mới để mô tả đặc tính trong các lĩnh vực chưa được khám phá trước đây, chẳng hạn như tương tác hạt-hạt và sự thay đổi độ nhớt động lực.

Các ứng dụng điển hình là huyền phù polymer và nhũ tương trong lĩnh vực hóa chất, nhũ tương dược phẩm như nhũ tương nhãn khoa (thuốc nhỏ mắt), propofol, nhũ tương truyền hoặc liposome. Trong y học và hóa sinh, các hạt nano có thể đóng vai trò là chất mang hoạt chất hoặc được trang bị làm chất mang hoạt chất cho các chức năng cụ thể. Trong lĩnh vực oxit (ZnO, AI2O3, TiO2, SiO2) và keo kim loại (vàng, bạc, paladi), cũng như sơn, vecni và mực, cũng như nghiên cứu chung về vật liệu nano, NANOPHOX CS là phù hợp.

Ghi lại và đánh giá dữ liệu

Là nền tảng đánh giá và kiểm soát chung cho tất cả các hệ thống Sympatec, phần mềm PAQXOS kết hợp chuyên môn đo lường tích lũy của chúng tôi vào một phần mềm ứng dụng thân thiện với người dùng. PAQXOS cung cấp cài đặt tự động cho tất cả các thông số đo trong phân tích kích thước hạt, điều chỉnh chúng một cách tối ưu, kiểm tra khả năng đo của mẫu trước và trong khi đo và xuất ra chất lượng tín hiệu để định hướng trong và sau khi đo. Cường độ laser và vị trí của cuvet được điều chỉnh theo ứng dụng tương ứng dưới sự điều khiển của phần mềm trước mỗi lần đo. Điều này làm cho các phép đo phức tạp trở nên rất dễ dàng đối với người dùng và NANOPHOX CS là một công cụ thiết thực để đo kích thước hạt hợp lệ và độ ổn định của hạt.

Trình hướng dẫn từng bước với kiến thức chuyên môn tích hợp cũng giúp người dùng thiếu kinh nghiệm thực hiện các phép đo thành công. PAQXOS cung cấp các bản trình bày đồ họa, bảng và báo cáo bằng giấy có thể được chọn từ nhiều định dạng được xác định trước và hoàn toàn có thể tùy chỉnh. Giao diện người dùng đồ họa trực quan hỗ trợ thực hiện các phép đo đáng tin cậy và có ý nghĩa. Hàm tương quan chéo, biểu thị độ tái lập và độ ổn định, được sử dụng để tính toán phân bố kích thước hạt.

Ngoài phép đánh giá Tích lũy thứ 2 cổ điển, PAQXOS còn cung cấp thuật toán Bình phương tối thiểu không âm (NNLS) hiệu quả hơn rõ rệt. Chế độ đánh giá NNLS trình bày các mẫu đa phân tán hoặc lưỡng kim một cách đáng tin cậy với tối đa 256 loại kích thước trực tiếp dưới dạng phân phối dựa trên thể tích hoặc cường độ. Các giá trị đặc trưng như giá trị trung bình số học hoặc hài hòa (xharm) của các chế độ đơn lẻ đều có sẵn trực tiếp. Phần mềm PAQXOS linh hoạt của chúng tôi lý tưởng cho các ứng dụng nghiên cứu và sản xuất có yêu cầu khắt khe.


Môi trường tập lệnh tích hợp cho phép lập trình các quy trình phức tạp để thiết kế các phép đo lặp lại theo cách hiệu quả và có thể lặp lại. Hơn nữa, cài đặt thông số đo được xác định trước có thể được triển khai dưới dạng ràng buộc Quy trình vận hành tiêu chuẩn | SOP. Phần mềm của Sympatec cũng đáp ứng các yêu cầu của ngành dược phẩm do FDA quản lý và cung cấp tất cả các chức năng an toàn, kiểm soát truy cập và phương pháp xác thực được quy định trong quy định 21 CFR Phần 11 về hồ sơ điện tử và chữ ký điện tử để đảm bảo tính toàn vẹn dữ liệu và ngăn chặn việc thao túng hồ sơ.

Xem video giới thiệu NANOPHOX!

Nguồn:

https://www.sympatec.com/en/particle-measurement/sensors/dynamic-light-scattering/nanophox/